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200℃测井仪器主控芯片性能测试

招标公告 2025-11-19
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正文内容

公告摘要:

200℃测井仪器主控芯片性能测试
项目名称: 200℃测井仪器主控芯片性能测试 项目概况: 本采购项目为“200℃测井仪器主控芯片性能测试”项目。主要内容包括:针对核磁发射电路模块、微扫信号调理电路模块、微扫主控采集电路模块、阵列侧向主控采集电路模块、高速采集芯片电路模块、阵列感应主控采集电路模块......

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