SiC衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备国际招标公告(2)0664-2640SUMECA96/01

招标公告北京市 2026-05-11

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公告摘要：

SiC衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备国际招标公告(2)0664-2640SUMECA96/01
SiC 衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备国际招标公告(2) 发布时间：2026-05-11 【购买标书】苏美达国际技术贸易有限公司受招标人委托对下列产品及服务进行国际公开竞争性招标，于2026-05......

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