公告摘要:
芯片高精度扫描测试系统项目第二次流标暨第三次招标公告(2025-YKQYJC-W1034)
芯片高精度扫描测试系统项目第二次流标暨第三次招标公告 投标文件截止时间前(2025年7月15日13时30分),参与本项目的投标供应商不满足开标条件,本项目作流标处理。因项目时间紧迫,现发布本项目第三次招标公告,......
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芯片高精度扫描测试系统项目第二次流标暨第三次招标公告(2025-YKQYJC-W1034)
芯片高精度扫描测试系统项目第二次流标暨第三次招标公告 投标文件截止时间前(2025年7月15日13时30分),参与本项目的投标供应商不满足开标条件,本项目作流标处理。因项目时间紧迫,现发布本项目第三次招标公告,......
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